分子筛与多孔材料化学(徐如人编著)
图 9-31SBA-6TEM 成像及其傅立叶衍射图(引自文献279)多数的介孔结构都是根据吸附等间接实验证据,以及溶致液晶的结构或是理论模型推断出来 的。现在电子显微术可以更直接的用来分析介孔结构。Terasaki 等人[279]在此方面作了许多工作, SBA-6 就是其中一个典型的代表。 SBA-1 和 SBA-6 的 XRD 谱图可以被指标化为 Pm 3 n 对称性,但对称性并不是结构,其结构 还是未知的,我们只是使用溶致液晶 Pm 3 n 相所对应的结构来代表 SBA-1 和 SBA-6 的结构。由 于 Pm 3 n(223)和 P 4 3n(218)具有相同的消光条件,因此只靠 XRD 方法是不能区分它们的。 根据 SBA-1 近乎完美的“晶体”形貌可以断定其具有 m 3 m 点群对称性,而 P 4 3n 的点群对称性 为 4 3m,因此 Pm 3 n 是正确的。在由高分辨 TEM 像(见图 9-31)的傅立叶变换衍射图中观察到This is trial version http://www.77cn.com.cn第 51 页
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