去助焊剂站点设备解析与故障分析(17)

图 2.12 环氧树脂处理后目检

2.2.2 测试

如图2.13所示为测试环节的工艺流程：

2.13 测试环节工艺流程

低成本老化测试(Low-Cost-Burn-In)

工艺目的：通过高温高压处理，筛选出容易过早老化的部分产品。

工艺内容（如图2.14）：1、uints到达老化测试站点后，先将其转移到老化测试工作台(BIBs)上，然后把它放到工作台上。

2、将工作台送入设备，用MHS自动将工作台(BIBs)装载到烘箱。 3、工作台和一个驱动甲板相连，这样在烘箱中也可以让电信号 通到测试器件中。

4、通过加温和加高电压可以加速失效率，减少到失效的时间。 5、测试完后把芯片再按照相反顺序放回tray盘（推车，传送台， 测试台卸载器）。

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