77范文网 - 专业文章范例文档资料分享平台

去助焊剂站点设备解析与故障分析(10)

来源:网络收集 时间:2021-01-20 下载这篇文档 手机版
说明:文章内容仅供预览,部分内容可能不全,需要完整文档或者需要复制内容,请下载word后使用。下载word有问题请添加微信号:或QQ: 处理(尽可能给您提供完整文档),感谢您的支持与谅解。点击这里给我发消息

第二章 封装测试工艺流程

2.1 概述

英特尔成都工厂主要从事英特尔半导体的封装与测试,对于不同的产品采用不同的封装测试工艺流程。产品主要包括FCPGA和FCBGA等。封装,测试是芯片性能的稳定性,使用寿命等的决定因素。所以先进的封装测试工艺必将是半导体发展的一个重要方向。

英特尔成都工厂对FCBGA产品的封装工艺流程如图2.1所示:

图2.1 FCBGA产品的封装工艺流程

百度搜索“77cn”或“免费范文网”即可找到本站免费阅读全部范文。收藏本站方便下次阅读,免费范文网,提供经典小说教育文库去助焊剂站点设备解析与故障分析(10)在线全文阅读。

去助焊剂站点设备解析与故障分析(10).doc 将本文的Word文档下载到电脑,方便复制、编辑、收藏和打印 下载失败或者文档不完整,请联系客服人员解决!
本文链接:https://www.77cn.com.cn/wenku/jiaoyu/1179667.html(转载请注明文章来源)
Copyright © 2008-2022 免费范文网 版权所有
声明 :本网站尊重并保护知识产权,根据《信息网络传播权保护条例》,如果我们转载的作品侵犯了您的权利,请在一个月内通知我们,我们会及时删除。
客服QQ: 邮箱:tiandhx2@hotmail.com
苏ICP备16052595号-18
× 注册会员免费下载(下载后可以自由复制和排版)
注册会员下载
全站内容免费自由复制
注册会员下载
全站内容免费自由复制
注:下载文档有可能“只有目录或者内容不全”等情况,请下载之前注意辨别,如果您已付费且无法下载或内容有问题,请联系我们协助你处理。
微信: QQ: