基礎電路設計(七) EMC對策與雷擊防護
高弘毅
內容標題導覽:|IC與LSI高速化與封裝時的噪訊對策|電路基板封裝時的電氣性|導體的電感|電感最低化設計|Ground| |EMC的對策重點| Filter|介面的shield對策|屏蔽技巧|Twist pair電線與同軸cable| 電源供給線產生的放射|
前言
由於IC與LSI高速化與高度積體化,使得IC與LSI本身就成是巨大的噪訊發生源,此外基於低耗電量的要求,即使IC與LSI低耗電化或是低噪訊化,從機器整體的角度觀之,機器對外部的噪訊反而變得極端敏感,因此有必要開發可抑制EMC等電磁干擾的技術。
噪訊對策可分為兩種方式,一種是直接抑制噪訊,另一種方式是避免外部噪訊造成電磁性結合引發電路誤動作,前者必需採取EMI對策,後者則需採取EMS對策。在電磁噪訊充斥的環境下設計電子電路,除了成本trade off考量之外,概括性的對策手段摸索與理論的結合成為重要的手法,因此接著要深入探討EMI與EMS的防護與對策。
IC與LSI高速化與封裝時的噪訊對策
設計電子電路時選用適合電路動作速度的邏輯IC非常重要,如果IC動作速度超過設計上的要求時,系統與機器的頻寬會大幅增加(圖1),抑制機器產生的噪訊變得毫無意義,而且更不易進行EMC對策。最近大部分的電子機器都使用高速低電壓CMOS IC,若與以往常用的TTL IC比較,CMOS IC反而更容易因噪訊造成電子電路誤動作。噪訊發生源通常是在電流變化(di/dt)很大的部位。CMOS IC是在switching產生大電流(過渡電流與充放電電流)變化時動作,此時若流入具有有限阻抗
(impedance)的ground line(主要是ind uctance成份),該部位就會發生電壓下降現象,而壓降造所成電路誤動作,會因低電壓IC的閥值越低越危險。相較之下高速IC的場合,即使是數ns的噪訊也會引發電路誤動作,因此不論是設計電子電路或是封裝設計,噪訊對策時必需注意以下要點:
(a).電源與接地層低阻抗化
雙面電路基板對動作速度較低的數位電路,具有良好的低阻抗效應,因此接地可以採用如圖2所示的網狀(mesh)導線,如果能縮小電源?接地(ground)所形成的迴路面積(loop area),即使受到外部磁界影響產生誘導電流,由於該電流會相互抵銷,因此整體而言雙面電路較不易受到外部磁界影響。不過短、粗是設計電源?接地導線的基本重要觀念。複數導體時電源?接地的導線,則需避免島狀分佈。高速高性能電路通常是採用多層電路板,同時會將電源?接地作為better面,信號傳輸線路尤其是阻抗(impedance)為80Ω左右時,最好使用micro strip line結構設計,如此便可降低傳輸線路的阻抗值,進而可讓送信端能使用具有高驅動能力的IC元件。除此之外為了使電路能充分發揮應有特性與整合性,因此高速高頻電路大多使用多層電路板。
(b).Switching噪訊
有關高速數位電路中CMOS IC的時間延遲問題,由於Bus是在某種tinning下同步進行switching,未作switching時雖然祇有數μA的漏電(leak),不過當switch ing動作時CMOS IC電路的電流中含有貫穿電流與充放電電流成份,由於貫穿電流與充放電電流會影響其它元件與電路,因此它是造成電路障礙的原因之一。
【計算實例1】
有關貫穿電流的影響,假設CMOS IC為32位元Bus都是從0開始變化成1,每個位元的貫穿電流為10mA,電源供給的電流ID :
ID=32x10mA=320mA
瞬間發生如此大的電流變化(di/dt),雖然導線的長度很短,不過LSI內部寬度祇有1μm以下微細導線的電壓會急遽下降,造成LSI內部產生無法忽視的ground bounce現象。上述計算實例祇考慮貫穿電流的影響,事實上LSI內部流有充放電電流,該充放電電流隨著動作頻率不斷變化,動作頻率越高消耗電流越大。CMOS IC的消耗電流Pd 可由下式求得:
靜態消耗電流IDD=Pd/VDD 。最近IC不朝朝向低電壓低耗電量方向發展,假設電源電壓從5V變成3.3V低電壓時,耗電量減少程度可利用式(1)求得:
VDD2=(3.3V/5)2=0.44=44%
亦即電源電壓從5V變成3.3V低電壓時,耗電量會降低44%。必需注意的是低電壓化對IC/LSI的站立/下降時間幾乎毫無影響,電壓變化(dv/dt)與高頻噪訊有直接關連,也就是說IC/LSI的低電壓化,可以有效減少IC/LSI本身的噪訊。
【計算實例2】
8位元shift resistor 74HC164的規格如下:
如上所述電源?接地pattern導線層內流有貫穿電流、負載充放電電流、終端阻抗驅動電流所構成的高頻電源電流,而且電源?接地pattern導線層內還具有有限阻抗(impedance),如果switching動作電流流入電源?接地pattern導線層內時,就會因電壓下降造成電路發生誤動作。此外若用介面cable與外部機器設備連接時,介面cable會成為common放射的天線,造成其它機器受到干擾,換言之電源接地層內的高頻電源電流是common放射的發射源,因此common放射成為EMI對策的重要對象之一。實施switching動作電流對策時的重點,分別是IC/ LSI的站立時間與下降時間。站立時間越快電源電流的頻寬越大,放射至外部的電磁波頻寬也越大,相對的就越不容易進行對策。對機器設備或是系統而言,維持最小頻寬與抑制放射噪訊,成為最有效的EMI對策,換言之延遲IC/LSI的站立時間具有下列效果:
※抑制放射噪訊的發生。
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