压力容器无损检测通用工艺规程(3)

2.3.5仪器和探头的系统性能应按ZBJ04001和ZBY231的规定进行测试。

3.超声检测一般方法 3.1检测覆盖率

检测时，应尽量扫查到工件的整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。

5.3试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。

如果涉及到两种或两种以上不同厚度的部件进行熔焊时，试块的厚度应由其平均厚度来确定。

5.4试块的制造要求应符合ZBY232和JB4126的规定。 5.5现场检测时，可以采用其它形式的等效试块。 6.钢制压力容器焊缝超声检测 6.1检测范围和一般要求

本规程适用于母材厚度为8-300mm全焊透熔化焊对接焊缝的超声检测。不适用于铸钢及奥氏体钢焊缝，外径小于159mm的钢管对接焊缝，内径小于或等于200mm的管座角焊缝，也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80%的纵向焊缝检测。 6.2试块

采用的标准试块为CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA和CSK-ⅣA。 6.3检测准备

6.3.1检测面

a.检测区域的宽度应是焊缝本身，再加上焊缝两侧各相对于母材厚度30%的一段区域，这个区域最小为10mm，见图6。

b.探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质。检测表面应平整光滑，便于探头的自由扫查，其表面粗糙度Ra应为6.3μm，一般应进行打磨。

C.采用一次反射法检测时，探头移动区应不小于1.25P：

P=2TK或P=2Ttgβ

式中：P——跨距，mm； T——母材厚度，mm； K——探头K值； β——探头折射角。

d.去除余高的焊缝，应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝，如果焊缝表面有咬边、较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，并作圆滑过渡以免影响检测结果的评定。 6.3.2采用两种角度K1、K2。 6.4距离一波幅曲线的绘制

6.4.1距离一波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线族由评定线、定量线、判废线组成。评定线与定量线之间（包括评定线）为Ⅰ区，定量线与判废线之间（包括定量线）为Ⅱ区，判废线及其以上为Ⅲ区。如图7。 6.4.2距离一波幅曲线的灵敏度选择

a.壁厚为8-120mm的焊缝，其距离一波幅曲线的灵敏度按表4规定执行。

b.壁厚大于120-300mm的焊缝，其距离一波幅曲线的灵敏度按表5、6规定执行。

C.直探头的距离一波幅曲线的灵敏度按表7规定。距离一波幅曲线的制作可在CS2试块上进行。

d.检测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高6dB。

e.工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同，否则应进行传输损失补偿。

f.扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。

表4距离一波幅曲线的灵敏度

试块型式 板厚mm 8-15 ＞15-46 ＞46-120 评定线 φ1×6-12 dB φ1×6-9 dB φ1×6-6 dB 定量线 φ1×6-6 dB φ1×6-3 dB φ1×6 判废线 φ1×6+2 dB φ1×6+5 dB φ1×6+10 dB CSK-ⅢA 表5距离一波幅曲线的灵敏度

试块型式 CSK-ⅣA 板厚mm ＞120-300 评定线 φd-16dB 定量线 φd-10dB 判废线 φd 注：d为横孔直径，见表6。

表6CSK-Ⅳ试块尺寸

CSK-ⅣA No.1 No.2 No.3 No.4 被检工件厚度 ＞120-150 ＞150-200 ＞200-250 ＞250-300 对比试块厚度T 135 175 225 275 标准孔位置b T/4 T/4 T/4 T/4 标准孔直径d 6.5 8.0 9.5 11.0 6.5检测方法

表7直探头距离一波幅曲线的灵敏度

评定线 φ2mm平底孔 定量线 φ3mm平底孔 判废线 φ6mm平底孔 6.5.1对接焊缝的检测

为充分发现各方向缺陷诮采用下列扫查方式： a.锯齿型扫查，见图8。 b.斜平行扫查，见图9。 C.平行扫查，见图10。

d.前后、左右、转角，环绕扫查，见标准。 6.5.2管座角焊缝的检测

a.一般原则

在选择检测面和探头时应考虑到各种类型缺陷的可能性，并使声束尽可能垂直于该焊缝结构中的主要缺陷。

b.检测方式

根据焊缝结构形式，管座焊缝的检测有如下五种探测方式，可选择其中一种或几种方式组合实施检测。检测方式的选择根据合同规定，并考虑主要检测对象和几何条件的限制。

在接管内壁采用直探头检测，见图12位置1。 在容器内壁采用直探头检测，见图13位置1。 在接管外壁采用斜探头检测，见图13位置2。

在接管内壁采用斜探头检测，见图12位置3和图13位置3。

在容器外壁采用直探头检测，见图12位置2。

C.管座角焊缝以直探头检测为主，探头频率、尺寸以及扫查方法按下述规定执行。对直探头扫查不到的区域，可采用斜探头检测。

方法：接触式脉冲式反射法，采用频率2-5MHz的直探头，晶片直径10-25mm。

灵敏度：将无缺陷下第二次底波调节为荧光屏满刻度的100%。 记录：凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20%的部位予以记录。 6.6缺陷定量检测

6.6.1灵敏度调到定量线灵敏度。

6.6.2对所有反射波超过定量线的缺陷，均应确定其定其位置、最大反射波幅和缺陷当量。 6.6.3缺陷定量

根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量直径φ或缺陷指示长度△L。

a.缺陷当量直径φ，用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检测，可采用公式计算，距离一波幅曲线和试块对比来确定缺陷当量尺寸。

b.缺陷指示长度△L的测定采用以下方法：

（1）当缺陷反射波只有一个高点，且位于Ⅱ区时，以端点6dB法测其指示长度。

（2）当缺陷反射波峰值起伏变化，有多个高点，且位于Ⅱ区时，以端点6dB法测其指示长度。

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