brower，下面的pipe右键选择Add to Design，可以看到插入扫描链后的电路图。
2. 导入dofile文件 pipe_scan.dofile.
SETUP> dofile results/pipe_scan.dofile
批处理包含了一个导入测试过程文件（test procedure file）的命令，是什么？ command: add_scan_groups grp1 results/pipe_scan.testproc FAST所需的文件
? 编译库文件（library）
? 读入插入扫描链后的网表文件(pipe_scan.v) ? 读入测试过程文件（test procedure file） ? 读入批处理文件（pipe_scan.dofile） 3. 进入 ATPG 模式.
SETUP> set system mode atpg
4.加入故障、生成测试向量.
ATPG > set fault type stuck ATPG > add faults -all ATPG > create patterns
5.检查结果.
ATPG> report statistics 写出运行结果
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#test_patterns _________5________ #simulated_patterns _________32________ CPU_time (secs) _________0.3________ test_coverage _________100%________ fault_coverage _________94%________ atpg_effectiveness _________100%________
6.通过三种压缩方法压缩测试向量.
ATPG> compress patterns 3 写出三种压缩方法的结果
Pass1 Pass2 Pass3 #patterns test #faults simulated coverage in list 5 5 5 100% 100% 100% 0 0 0 #faults # eff. # test process detected patterns patterns CPUtime 33 33 33 5 5 5 5 5 5 0 0 0
12
7.保存测试向量.（并行）
ATPG> save patterns results/pat1_par.v -verilog -procfile -parallel -begin 0 -all_test -mode_internal –replace
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8. 保存测试向量.（串行）.
ATPG> set pattern filtering -sample 5
ATPG> save patterns results/pat1_ser.v -verilog -procfile -serial -all_test -mode_internal -replace
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