源漏区的离子注入时有何区别,为什么。(5分)
答:制作在P+硅衬底的P-外延层上的nMOS管的剖面结构示意图如下图所示:
SourceGaten+p wellp- epip+ substraten+Drain
阱注入与源漏区的离子注入时的区别:① 阱注入通常采用倒掺杂技术,浓度的峰值在体内的某处;而源漏区的离子注入通常为浅结注入,浓度的峰值在表面;② 阱注入通常采用质量比较大的原子,如磷、硼等;而源漏区的离子注入通常采用质量比较轻的原子,如砷、氟化硼等。 三、计算题(共20分)
1、硅片热氧化生长遵从如下公式:t2ox+Atox=B(t + τ),其中tox为硅片经过t时间后SiO2的生长厚度(μm);B为抛物线速率系数(μm2/h);B/A为线性速率系数(μm/h);τ为生成初始氧化层(同一工艺参数)所用的时间(h)。我们希望通过对一初始表面氧化层厚度为0的硅片进行一2段氧化过程:干氧(0.5 h)—湿氧(2 h)来生成厚的SiO2薄膜作为隔离场氧层。干氧温度为1100℃,湿氧水汽氧化温度为920℃。已知:920℃下水汽氧化相关工艺参数分别为:A=0.50μm,B=0.20μm2/h;1100℃下干氧氧化相关工艺参数分别为:A=0.09μm,B=0.03μm2/h。试计算 : a、0.5 h内干氧生成的SiO2厚度(μm);(4分) b、2 h内湿氧水汽氧化所生成的SiO2厚度(μm);(4分) c、整个氧化过程所消耗的硅层的厚度(μm)。(2分)
提示:在计算a、b时请注意,需要通过之前的初始SiO2层厚度来确定对应氧化步骤的初始SiO2层生长时间τ(非真实生长时间,令t=0即得)。
提示:在计算a、b时请注意,需要通过之前的初始SiO2层厚度来确定对应氧化步骤的初始SiO2层生长时间τ(非真实生长时间,令t=0即得)。
解:(a) ∵ t2ox + Atox=B(t + τ),又∵初始氧化层厚度为0;
∴ τ1 = ( t2ox + Atox ) / B = 0 h
∵ t2ox+Atox=B(t1 +τ1),又∵ t1=0.5 h;
∴ t2ox+0.09tox=0.03×(0.5 +0);即 tox= 0.0855 μm
答:0.5 h内干氧生成的SiO2厚度为0.0855μm。
(b) ∵ t2ox + Atox=B(t +τ2),又∵湿氧时初始氧化层厚度为0.0855μm; ∴ τ2 = ( t2ox + Atox ) / B = 0.25 h ∵ t2ox+Atox=B(t2 +τ2),又∵ t2=2 h;
∴ t2ox+0.5tox=0.2×(2 +0.25);即 tox= 0.4659μm
答:2 h内湿氧水汽氧化所生成的SiO2厚度为0.4659μm。 (c) 总的硅片氧化生成的二氧化硅厚度tox= 0.0855 +0.4659 =0.5514μm ∴ 消耗的硅层厚度为tSi=0.5514×0.45=0.2481μm
答:整个氧化过程所消耗的硅层的厚度为0.2481μm。
2、 假如从气态BF3分子中提取两种复合离子BF21+和BF12+分别进行浅结离子注入,实现P型掺杂, 当加速场的电势差为30 kV,束流为20微安,注入扫描面积是20×20 cm2。
计算 (1)离子注入的能量分别为多少?(5分)
(2)当注入剂量为3×1015 原子/cm2,注入时间分别是多少?(5分)
解:(1) ∵ KE = nV
∴ BF21+:30 kV×1 = 30 keV ∴ BF12+:30 kV×2 = 60 keV
答:BF21+和BF12+离子注入的能量分别为:30 keV和60 keV。 (2) ∵ Q = It / enA
∴ BF21+:t = Q enA / I = 3×1015×20×20×1.6×10-19 / 20×10-6 = 9600S ∴ BF12+:t = Q enA / I = 3×1015×20×20×2×1.6×10-19 / 20×10-6 = 19200S 答:当注入剂量为3×1015 原子/cm2,BF21+和BF12+离子注入时间分别是:9600S和19200S。
3、为实现更小的微细加工线宽,最新的光刻技术采用浸没式光刻机以实现更高的分辨率。假定光刻机所用透镜的半径为6cm,透镜的焦长为10cm,浸没的液体为折射率1.44的水溶液,光刻机使用的光源为波长193nm的准分子激光器,k值为0.6,试求此镜头的数值孔径NA、焦深和光刻机的分辨率。(10分)
解:(1) 数值孔径: NA = (n)sinθm≈(n)透镜半径/透镜的焦长≈6/10≈0.6
(2) 焦深: DOF = λ/2(NA)2 = 193/2*(0.6)2 =268 nm (3) 分辨率: R = kλ/NA = 0.6*193/0.6 =193 nm
答:镜头的数值孔径NA为0.6、焦深为268nm、分辨率为193nm。
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