XULM(简体版)操作说明书(HK)(5)

5. WinFTM?软件的’测量”应用窗口再次出现，仪器做好测量准备。

5.4 设定产品程式

产品程式设定要求：

●

所用产品程式的Def.MA文件（应用程式的测量设定定义――――Def.MA）

(必须已经在WinFTM?软件内定义，或必要时设定一个新的Def.MA文件)

设定产品程式：

1. 选择菜单“产品程式－开启新…”打开“选择测量应用程式”窗口，其中列有现有的一系列Def.MA文件。 2. 选择要用的Def.MA文件。

3. 选择[确定]确认。窗口“建立新产品程式”出现。默认的新产品程式名称自动显示在“名称”输入框中。例如，如果选中的Def.MA是“Zn/Fe”，则在“名称”输入框中显示“Zn/Fe”。

下一个可用的编号作为新产品程式的编号自动显示。

4．对产品程式名称和编号作必要的改变

不可能用同一个编号设定两种产品程式！如果一个编号已被使用却又指定给一个新产品程式，程序将显示相应信息。

5．选择[确定]。应用程序窗口“测量”重新出现。产品程式已经设定完成并自动选择。

仪器做好测量准备。

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一旦一种产品程式设定后，建议制作一个适合该产品程式的标样（参见“5.6 标 样”一节第21页）。这便于进行调校检验测量（参见“4.5调校检验测量”一节，第

13页）。

5.5 选择调校标准片

通常情况下，考虑到没有标准片也应能进行测量，在所有测量模式中都使用了无标准测量。 无调校测量检验或调校修正可通过使用最多20片标准片来进行，调校以后，就可以进行测量了。

选用的标准片面的镀层厚度或成分应与被测样品的相近。如果使用几个标准片，它们应在期望的测量范围内均匀分布。

5.6 标样

标样（工作标准片）是明确定义了测量区域的样品，镀层厚度或组成Xvp已知。标样可能．．

是从自己或他方的产品中取得的某一合适的校准仪测量过的样品。

标样用于仪器的调校控制。

测试区的涂镀层厚度或组成应较均匀。设定的产品程式的标样应与被测样品有相同的特性（底材，涂镀层或底材的组成等等）

5.7 底材修正

如果被测底材与以前所测样品的底材有差别，就应进行底材修正，也就是说，在底材上的

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读数偏离了零点。如果在Def.MA中定义的底材是纯元素，就不需要进行底材修正。

被测样品的涂镀层下面的材料称为底材。

因此，底材就是待测镀层镀在它表面的材料。另一方面，如果不测量中间层的话，它也可能是底材的一部分。

底材修正要求： ●

通电后，在进行底材修正前应预热FISCHERSCOPE? X－RAY仪器一会儿。预热 通过

持续至少半小时的测量来进行。测量在子程序“频谱”中进行。

调用子程序“频谱”，选择[测量]开始连续测量，半小时后，选择[停止]中止连

续测量.（要调用子程序“频谱”：从“测量” 应用程序窗口选择图标

底材修正仅用于当前的应用程式。对其它应用程式无效。

进行底材修正:

1． 选择菜单“调校……底材修正”。出现“元素：测量产品的底材物料”提示信息。 2． 放置底材（参见“4.6放置样品”，从第13页开始），选择[确定]开始测量。“测量中”窗口出现。

3． 底材修正结束时出现“测量”应用窗口。仪器准备测量。

。）

底材（无待测涂镀层的样品）

5.8 归一化

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如果调校检验测量时偏差四倍于标准偏差S（参见“4.5调校检验测量”一节，从13页开始）。

归一化要求：

1． 底材（无待测涂镀层的样品）。（如果底材是纯元素则不需要） 2． 标准片底材（在Def.MA文件中定义）。（如果底材是纯元素则不需要）

3． 纯元素标准片（只有在Def.MA文件中选中“测量元素”复选框才需要，即频谱资料库不再用于计算纯元素）。

4． 测量干扰频谱的材料（在Def.MA文件中）。（例如印刷线路板上的溴）

通电后，在进行底材修正前应预热FISCHERSCOPE? X－RAY仪器一

会儿。预热

可通过持续至少半小时的测量来进行。测量在子程序“频谱”中进行。

调用子程序“频谱”，选择[测量]开始连续测量，半小时后，选择[停止]中止连续测量.（要调用子程序“频谱”：从“测量” 应用窗口选择

归一化仅用于当前的应用程式，对其它应用程式无效。

图标。）

进行归一化： 1． 选择菜单“调校……归一化”打开“归一化”应用窗口。指令窗口出现下一步的操作

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指示，。如果要求测量，按第2点开始的描述开始进行。如果在指令窗口显示“不需要测量，按测量键”，则不需要再测量。在这种情况下，不必放置标准片或底材，选择[测量]，按[是]确认“归一化完成，接受？”信息。程序返回“测量”应用窗口。仪器准备测量。

2． 如果要测量的话，放置底材或纯元素标准片。（参见“4.6放置样品”，从第13页开始）后开始测量（参见“4.7进行测量”一节，从第14页开始）。测量结束，读数显示在测量数据区。

3． 按照指令窗口中的提示进行测量。如果一个纯元素标准片或底材要测量几次，轻轻移动标准片或底材几次。这样可以均化材料上的电势不均性。

4． 在归一化结束时，信息“归一化完成，接受”出现，选择[是]确认。“测量”应用窗口重新出现，仪器准备测量。

5.9 调校

如果在归一化后，校调检验测量时偏差大于标准偏差S的四倍，那么就要进行调校（参见“4.5 调校检验测量”一节，从13页开始）。 调校要求：

● 底材（无待测涂镀层的样品）。（如果底材是纯元素则不需要） ● 标准片底材（在Def.MA文件中定义）。（如果底材是纯元素则不需要） ● 纯元素标准片（只有在Def.MA文件中选中“测量元素”复选框才需要，即频谱资 料

库不再用于计算纯元素）。

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