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粉末冶金技术
2010年4月
(a)烧结好的材料抛光而未浸蚀的表面和一系列平行的直线状探针;(b)在孔隙内重合的线段终点表明了在每个区域中的各个“点”
图5
Fig.5
array
覆盖在图像上的直线状探针
surfaceof
a
(a)shows
a
polishedandunetched
well.sinteredmaterialwiththe
line
segments
ofparallelline
pores
sampleprobes.Theendsofthecoincident
shown
withinthe
inFigure5(b)representindividual‘points’ineachfield.
各向同性、均一及随机分布(IUR)。鉴于压制零件采用的方法,对于大多数粉末冶金材料而言,这是有问题的。压制作业会使孑L隙结构具有方向性,从而促使人们在进行试验时,或是从试验材料中除去正交截面,或者寻找另外一种试验方法,一种能说明在采样中各向异性存在的方法。关于这个问题,建议确定除去试样的取向和决定用于试样表面的探针类型。对于试验,要除去的是垂直取向平面的水平平面,而不是随机取向的平面;这被认为是垂直截面。用在4个方位排列的摆线型探针替代宜线状探针。当适当应用于试样中的方向性时,摆线型曲线表明了试样的随机取向结构"“o。图6示一摆线试验曲线。
摆线的形状可用下面的式(2)与式(3)来确定,式中0≤04霄:
髫=0一sin0
Y
2
图6摆线试验曲线(曲线的长度是高度的2倍)
Fig.6
Thecycloidofthe
curve
test
curve,wherethelength
istwicetheheight.
(2)(3)
1一cosO
摆线4个方位的排列是均一覆盖,并用作试验探针。试验和上述的直线状探针一样,对穿过的点
图7
4个摆线方位组成的类似正弦的波形
Sine-like
wave
进行计数,同样地进行计算。摆线方位的一种合适
的排列是,如图7所示,像正弦波状覆盖。为了均一覆盖图像,如图8所示,这种关联的图形可以多个“波”进行重复。与对许多独立的摆线线段进行计
Fig.7
composedofthe
fourcycloidorientations.
积之比的公式仍然是式(1)的S。=2P。。对曲线穿过孑L隙边缘处所增加的P的计数的增量也是相同的,测量或根据摆线线段数量计算了线的总长度。
可用直线或摆线覆盖来计算金属相中颗粒边界的表面对体积之比。若材料是由粉末压制成形的,
依然存在因取向的影响而产生的方向性问题,但用
数不同,对于一些操作人员来说,人工跟踪波形可能
比较方便。
用图8的图像作为一个例子,用和直线状探针同样的方式计算了表面对体积之比。确定表面对体
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