ic半导体测试基础（中文版） - 图文(5)

----

S CRCEIITTTTIIIISDDIPPPPIPPPIIIIREIEEDOIOIDSSIODDTDDDDDDDDDDD

i KSKXNNCMDDOOOOAOICISSSAOIOOOOOWRORRSCCLLOAYBBIORBBBBBBBBBBB

t ITOMTTKSIOBBBBDE2KBEEECBDDBBBBNA AOEKKDDEDNFE1UA11111100000

e B 10 IIIIDN_2FLLLKESSIIII M MML1111NDC11 TP54321098765

# TTTT22P__210 ___TTTT L

H 111 1 3210__BPI___ OIO4567 O

I ____PP0BBODS

BLL____ PPPPBB10FCOY

EDDVVVV 1: 2+0000000000000000000000000000000000000000000000000000000000

1: 6

0000+000000000000000000000000000000000000000000000000000000 1: 31

00000000000000000000000000000+00000000000000000000000000000 1: 37

00000000000000000000000000000000000+00000000000000000000000 1: 44

000000000000000000000000000000000000000000+0000000000000000 1: 55

00000000000000000000000000000000000000000000000000000+00000 1: 56

000000000000000000000000000000000000000000000000000000+0000 1: 57

00000000000000000000000000000000000000000000000000000000+00

Note: this pattern walks a Z through a field of 0’s . Only failing Vectors are shown

第五章.功能测试（9.2）——标准功能测试(2)：VIL/VIH Test

TEA1708 用于X电容的自动放 电IC 具有自动放电功能 集成有500伏钳位电路 电源浪涌期间保护 IC 支持用大容量X电容器 更简便的应用设计 VIL/VIH VIL（输入低电平）表示最坏情况下输入端的电压，代表逻辑0。VIH（输入高电平）代表最坏情况下输入端的电压，代表逻辑1。下表是256x4 static RAM的VIL/VIH规格表。 Parameter VIH VIL Description Input HIGH Input LOW Test Conditions Min 2.0 Max 0.8 Units V V 测试目的 VIL/VIH测试是确保输入为VIL/VIH时，输入管脚能正确识别逻辑状态。VIL代表DUT确认为逻辑0的最大电压。VIH代表DUT确认为逻辑1时的最小电压。 功能测试方法 尽管VIL/VIH电平的定义通常在器件参数表中“DC特性”中，但必须对它们通过功能测试进行验证。测试是通过在器件规格表中定义的输入电平下执行功能测试pattern的。如果测试结果通过了，则器件可以正常工作且满足VIL/VIH规格表。如果结果未通过，则器件未达到既定的规格。 对于TTL逻辑，VIL电平通常定义为0.8V，VIH为2.0V。对于纯CMOS逻辑，则输入电平按VDD的百分比定义，例如，VIL是(0.3*VDD)，VIH是(0.7*VDD)。 注意：1）VIL/VIH需要2次重复测试，一次是在VDDMIN，一次是在VDDMAX。 2）一些CMOS器件类型与TTL电平兼容。

图5-15.VIL/VIH Test 故障寻找

开始VIL/VIH的调试之前需使能datalogger，观察测试结果。如果有标准DUT（已知好的器件），则测试它，观察结果。

当VIL/VIH测试失败时，则表现为一个或多个错误的输出信号。当测试一个复杂器件时，通常很难或不可能确定是哪个输入导致失败，除非单独测试每个输入。 放宽VIL和VIH电平。放宽VIL电平是降低它的值——0V是最松的VIL电平。放宽VIH电平是升高它——VDD是最松的VIH电平。放宽输入电平后返回测试。如果已经通过严格的测试，则宽范围的测试也应该能通过。

接下来是将VIH设置为初始的规格电压，返回测试。如果结果通过则VIH满足规格表，是VIL参数导致了失败。如果测试未通过，则除一个管脚外，其他管脚都放宽VIH值，返回测试。对于VIH，一次验证一个管脚，对于验证VIL，可以重复这个过程。输出电流负载和高频测试会在影响VIL/VIH测试的DUT中引起噪声。取消所有的输出负载，降低测试频率（增加测试周期）是必要的。

仔细阅读器件规格书——可能说明了VIL和VIH电平只在“无静态噪声”的情况下有效。这就是说在进行产品测试时，需要将VIL和VIH电平的范围稍微放宽点。 小结

目的：验证输入缓存能正确检测VIL和VIH电平 VIL/VIH只能通过执行动态功能测试进行验证 测试局限在器件规格表中有定义（通常是DC） 输出管脚失效是输入电路的不正确操作的结果

第五章.功能测试（9.3）——标准功能测试(3)：VOL/IOL VOH/IOH Test VOL/IOL VOH/IOH功能测试 VOL（输出低电压）代表输出在低状态时一个输出产生的最大电压。 IOL（输出低电流）代表输出在低状态时一个输出的灌电流能力。 VOH（输出高电压）代表输出在高状态时一个输出产生的最小电流 IOH（输出高电流）代表输出在高状态时一个输出的源电流能力 下表是256x4 static RAM的VOL/VOH规格表。 Parameter Discription VOH VOL Output High Output Low Test Conditions VDD=4.75V IOH=-5.2mA VDD=4.75V IOL=8.0mA Min 2.4 Max 0.4 Units V V 测试目的 当在电流负载下驱动有效输出时，VOL/IOL/VOH/IOH测试验证输出端的阻抗。这个测试确保保持正确的VOL/VOH电压时输出将提供规定的IOL/IOH电流。当与使用serial/staticPMU执行一些测试相比，执行VOL/IOL/VOH/IOH测试 有很大的速度优势。 VOL/IOL VOH/IOH——动态测试 这几个参数静态或动态的测试方法都可以验证，静态的方法之前提过，现在来说说动态测试法。实施VOL/IOL、VOH/IOH的动态测试，测试机的比较电平设置到器件规格书定义的VOL/VOH，施加负载电流，并运行功能测试。 运行功能测试期间，输出端需要灌入或拉出适当的IOL/IOH电流，输出比较电路则确定输出端是否仍能保持相应的VOL/VOH电平。如果输出端比较脆弱，不能灌入或拉出适当的电流，则比较电路会发现对应电平在边界之外，测试结果为失效（fail）。 注：运行功能测试期间在输出端施加负载可能会在DUT内部引起大电流。如果DUT拥有较多数量的输出管脚或者拥有大的电流输出缓冲，在同一时间对所有的输出施加负载并能使VOL/VOH电平仍符合规格书的可能性不大，DUT内部的大电流会引起出现在输出端的噪声信号，它会干扰比较单元的判断，导致误判。对于较少输出管脚的DUT，我们可以逐个地对输出施加适当的负载，直到所有输出管脚测试完毕；更多的情况下，我们选择的是降低测试速率、移动输出比较点的位置以取得稳定的测试结果。 对照规格书确认并检查测试程序中相关的电压及电流的参数设置，可以设置为直观的数字，如VOL通常设置为0.4V，VOH则设置为2.4V；也可以设置为与电源参数有关的表达式，如VOL=（GND+0.1），VOH=（VDD-0.1）。

图5-16.Functional VOL/VOH test

故障寻找 打开数据记录（dataloger），使用标准DUT运行测试，记录并观察测试结果。 若VOL/IOL VOH/IOH测试失效（fail）,将表现在一个或多个输出管脚上，dataloger会显示失效的管脚及失效状态。观察失效的结果，是否0、1的fail都有：如果都有，则VOL和VOH的电平都有缺陷；如果不是，则其中之一引起了失效。进一步验证，放宽VOL/VOH参数是否能让测试通过，IOL/IOH也可以尝试适当放宽。

注：施加全负载时，输出需要较多的时间完成在逻辑电平间的传输，如前所说，需要降低测试速率、移动输出比较点的位置以取得稳定的测试结果。

第五章.功能测试（9.4）——标准功能测试(3.1)：VOL/IOL VOH/IOH Test (2)

JN5168

全新小尺寸无线微控制

器

百度搜索“77cn”或“免费范文网”即可找到本站免费阅读全部范文。收藏本站方便下次阅读，免费范文网，提供经典小说教育文库ic半导体测试基础（中文版） - 图文(5)在线全文阅读。