地球物理复习题-2014 - 图文(3)

在实际野外观测时，表层因素与假设往往并不一致。例如，存在地形起伏，低、降速带的厚度变化和速度的横向变化等。这时观测到的时距曲线不是一条双曲线，而是一条畸变了的曲线。若是共炮点记录，就得不到正确反映地下构造形态的一次覆盖时间剖面。若是共反射点记录，则达不到同相叠加，直接影响到水平叠加时间剖面的质量。特别在丘陵、山区、这种情况更为严重，因此要进行表层因素的校正，即静校正。

静校正有两个十分重要的特点：

（1）由于表层低速带的速度十分低，深、浅层反射波的射线路径尽管在低速带以外的各地层中传播时各不相同，但在表层附近几乎都是近于垂直的。因此，静校正量的大小只与地面位置有关，即对于某一道而言，深、浅层反射波有相同的静校正量。所以称之为“静”校正。这种条件称为地表一致性条件。当然，在某些地区，地表一致性条件不能得到满足．会出现静校不“静”的情况，不在这里讨论之列。

（2）静校正量有正有负。 14、

野外一次静校正怎样进行？需要什么资料？

利用野外实测的表层资料直接进行，又称为基准面静校正。其方法是人为选定一个海拔高程作为基准线(面)，利用野外实测得到的各点高程、低速带厚度、速度或井口时间等资料，将所有的炮点和检波点都校正到此线(面)上，用基岩速度替代低速带速度，从而去掉表层因素的影响。它包括有：

井深校正 地形校正

低速带校正：将基准面下的低速带速度用基岩速度代替。 15、

为什么要进行动校正？动校正怎样进行？ 为什么动校正后会产生波形畸变？

在水平叠加中，动校正处理是针对共反射点道集进行的。它把炮检距不同的各道上来自同一界面同一点的反射波到达时间按正常时差规律校正为共中心点处的回声时间，以保证实现同相叠加，使得叠加后的记录道变为自激自收的记录道．从而直观反映地下构造形态。除了在共反射点道集中作动校正外，它也可用于共炮点记录，方法完全一样但含义不同。此时它将来自一段平界面的反射波双曲线型时距曲线校正为直线型，得到一次覆盖时间剖面，直观地反映地下一段反射界面特征。

（1）动校正量的计算：?tij?tij?t0i?[t?20ix2jv2(t0i) ]2?t0i(j?1,2,…N）1 由公式可以看出，动校正量既是说(炮检距固定)，深、浅层反射波(

t0i的函数，又是xj和速度的函数。对于任一道来

t0i不同)的动校正量不同，即动校正值随时间而变。这t0i和xj固定，则速度越大，校正量越小，反之，越大；

就是动校正中所谓“动”的含义。当当

t0i和速度固定时，则随着xj的增大，校正量也增大。

（2）从t0i??tij对应的存储单元搬到与t0i对应的存储单元中。这样就实现了某道对应时刻t0i的动校正。显然实现动校正，要进行两个循环：先t0i循环，后xj循环。

用“成组搬家”方法实现动校正时，组内波形没有变化，组与组之间的“空”会使记录道波形产生明显畸变，即使插值补空也不能根本解决问题。这是因为计算机只能进行离散处理，原来每个样值点的动校正量均不相同但差异很小，属于渐变形式，离散处理必须舍入为一个采样间隔，这样相邻点的渐变逐渐累积使组与组之间发生突变。由上述分析可以看出，畸变的一般规律是反射波的波形被拉长，周期加大，频谱向低频方向移动，因此一般动校正会引起波形拉伸畸变。根据研究可知，动校正畸变随反射层深度的增大，畸变越来越小；随着炮检距的增大而越来越大。故此，一般要求最大炮检距应小于等于主要目的层的深度，以减小畸变。 16、

为什么要进行偏移处理？ 怎样从反射、广义绕射和波场的观点理解偏移？

从反射的观点理解偏移：当界面倾斜时，由于时间剖面的显示形式，把接收点接收到的叠加后的信号垂直置于接收点的正下方，使水平叠加时间剖面同相轴形态与真实界面的产状（空间位置）不一致，出现偏移。

从广义绕射的观点理解：地下界面上的每一点均可认为是一个绕射点，它们在入射波的激励下会向界面上方辐射广义绕射波。地下一个绕射点对应到记录上就是一条绕射双曲线，即一大片，这正是一个模糊化过程。由于真实界面由许多绕射点所组成，它们都辐射绕射波，自激自收剖面上的视界面是所有这些绕射波双曲线的公切线，其位置与双曲线顶点连线不一致，发生了偏移。偏移处理就是将绕射波能量正确的汇聚于其双曲线顶点，结果能量收敛、模糊化消除、界面也自然恢复到其真实位置处，即双曲线顶点连线位置。

从波场的观点理解偏移：随着观测面不断向地下深处移动，相当于把激发点和接收点不断向下移动。可得到两个明显的结论：（1）水平偏移距越来越小；（2）波的自激自收时间越来越短，直到界面A点时为零。这意味着将反射波场向下延拓时，总可使水平偏移距缩小到零，使被偏移的视界面点归位到真实界面点．从而实现偏移归位的目的。 17、

严格按照控制点画图表示背

斜、向斜在水平叠加剖面上的几何形态以及振幅特征。并说明背斜和向斜的曲率和埋藏深度对其在水平叠加剖面上形态的影响。 振幅特征：由于背斜顶部凸界面的反射存在发散现象，分散到单位面积上的波的能量会减弱。界面凸度越大，埋藏越深，射线发散越严重，地震波的振幅也越小。

对于曲率相同，深度不同的凹界面，随着深度的加大将出现不同的反射特征：浅层为平缓收缩型；中层为聚焦型；深层为回转型。

振幅特征：

由于凹界面对射线的聚焦作用，反射振幅明显增强，出现了非岩性的“亮点”异常。

由于向斜两边凸界面的发散效应，反射能量下降，深层由回转波形成的假背斜能量会更加突出。 18、

折射波是怎样产生的？怎样利用t0差数时距曲线法反求界面的埋深和速度？该方

法有什么适用条件？

折射波：由于滑行波沿界面滑行引起另外的效应，由于介质1与介质2是密接的，滑行波传播过程中，反过来影响第一种介质，并在第一种介质中激发新的波，这种由滑行波引起的波在地震勘探中叫折射波。（首波）（即透射波的能量都集中在界面附近，能不断向上转化给首波，形成折射波的能量）

t0差数时距曲线法：又称为相遇时距曲线的t0法。适应条件：在折射界面的曲率半径

比其埋深大得多的情况下，该法通常能取得较好的效果，且具有简便快速的优点。因此方法的应用前提条件是：折射面的曲率半径比其埋深要大得多；界面倾角小于15度；地震波沿折射面滑行时没有穿透现象。

电法部分

1、 影响岩土介质电阻率的因素有哪些？

自然状态下，岩土介质的电阻率除与介质组分有关外，还与岩石的结构、构造、孔隙度、湿度、矿化度及温度等因素有关。

介质组分的影响：一般来说，当岩石中良导性矿物的体积含量高时，其电阻率通常较低。相反，当造岩矿物含量高时，岩石电阻率亦很高。

结构的影响：在导电金属矿物含量相同的条件下，岩石的结构起着重要的作用。浸染状结构岩石中良导性矿物被不导电矿物包围，其电阻率要比良导性矿物彼此相连的细脉状结构岩石为高。因为从电学观点来看，前一种情况不同电性的矿物颗粒的排列呈串联形式，而后一种情况则呈并联形式。

湿度的影响：湿度对岩石的电阻率有很大的影响，这是因为水的电阻率较小，含水岩石的电阻率远比干燥的岩石低。 岩石的湿度又与岩石本身的孔隙度及其所处的水文地质条件有关。

矿化度的影响：岩石中所含水溶液的矿化度越高，其电阻率就越低。

温度的影响：温度升高时，一方面岩石中水溶液的粘滞性减小，使溶液中离子的迁移率增大。另一方面，又使溶液的溶解度增加，矿化度提高。所以岩石的电阻率通常随温度的升高而下降。

2、 请说明电阻率是怎样测定的？ 视电阻率和真电阻率有什么区别？

获得岩石电阻率的方法之一，是用四极装置以小电极距在岩石露头上进行测定，这种方法称为露头法。此外，用电测井方法和岩心标本测定方法也可以获得岩石的电阻率。

理想情况：地面为无限大的水平面，地下充满了均匀各向同性的导电介质——在这种情况下利用实际情况：地形地质情况复杂，地形往往起伏不平，地下介质也不均匀，各种岩石相互重叠，断层裂隙纵横交错，或有良导矿体、溶洞等等，电阻率往往不均匀。

在这种情况下利用上式计算得到的电阻率称为视电阻率，它不是某一岩层的真电阻率，而是该电场分布范围内，地下各种电性不均匀体和地形起伏的一种综合反映，以?s表示。公式：??K?U，得到的电阻率是大地的真电阻率。视电阻率虽然不是岩石的真电阻率，I但可以根据所测视电阻率的变化特点和规律去发现和探查地下的电性不均匀体，达到找矿和解决其它地质问题的目的。

3、 怎样根据视电阻率反推地下低阻或高阻体的存在？写出公式。并说明利用该公式反推地

下低高阻时有哪些假设？为什么？ 视电阻率与电流密度的关系公式：?s?jMN?MN，j0是地下均匀介质时的电流密度。j0只取决于装置类型和大小，与所在的空间位置无关。对于一定的装置，可认为它是已知的。

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