四、实验内容
1.用万用表进行静态工作点测量,用示波器观察振荡器的停振、起振现象。 2.用示波器观察振荡器输出波形,测量振荡电压峰-峰值Vp-p,并以频率计测量振荡频率。 3.观察并测量静态工作点、耦合电容、反馈系数、等效Q值等因素对振荡器振荡幅度和频率的影响。
五、实验步骤
1.实验准备
⑴ 插装好LC振荡器与射随放大电路模块,按下开关3K1接通电源。 ⑵ 3K01、3K02、3K03置“off“位,即可开始实验。
2.静态工作点测量
⑴ 用三用表测量晶体振荡管3Q01的各管脚电压,用示波器探头接3TP01端,调整3W01,观察振荡器停振和起振时的情形。
⑵ 调整电位器3W01可改变3Q01的基极电压VB,并改变其发射极电压VE。记下VE的最大值,并计算相应的IE值(发射极电阻3R04=1kΩ): IE?
3.静态工作点变化对振荡器工作的影响
⑴ 实验初始条件:IEQ=2.5mA(调3W01达到)。
⑵ 调节电位器3W01以改变晶体管静态工作点IEQ,使其分别为表3.1所示各值,且把示波器探头接到3TP01端,观察振荡波形,测量相应的输出振荡电压峰-峰值Vp-p,并以频率计读取相应的频率值,填入表3.1。
表3.1
VE 3R04IEQ(mA) f(MHz) Vp-p(V) 2.0 2.2 2.4 2.6 2.8 3.0
4.振荡器频率范围的测量 测量方法:
用小起子调整半可变电容3C05,同时用频率计在3TP01端测量输出振荡信号的频率值 5.频率稳定度的测量 测试方法:
(1)用频率计在3TP01端测量振荡频率,观察1分钟左右,振荡频率f0的变化情况,并记录两个频率值f01(开始值),f02(最大变化值)。
-3
(2)计算:LC振荡器的短期频率稳定度Δf0/f0应优于10。
例如:本实验振荡频率f0为7.5MHZ,因此,振荡频率的频率误差Δf0应满足:
-33
Δf0=f02-f01=±f0×10=7.5×10HZ。即振荡频率在短时间内,误差不应超出7.5KHZ。
6.等效Q值变化(负载电阻变化)对振荡器工作的影响
改变负载电阻使其分别为10K、5.1K(分别接通3K02、3K03),观察振荡波形,测量相
应的振荡电压峰一峰值VP-P。
六、讨论与思考
1.如何用三用表通过测量,判断振荡器是否振荡? 2.振荡器正常工作时振荡管的管压降Ube、Uce的正常值范围各为多少?超出此 范围,振荡器将不能正常工作。
3.振荡器的频率范围(频率复盖)达不到要求,整个范围抬高了,如何降低高、低端振荡频率?如果频率范围过宽,如何提高低端,降低高端振荡频率?
七、实验报告要求
1.记录LC振荡器的测量数据: (1)静态工作点电流; (2)振荡器频率范围; (3)短期频率稳定度;
(4)影响振荡稳定性的因素; 2.实验体会和总结。
实验4 石英晶体振荡器
—、实验准备
1.做本实验时应具备的知识点:
? 石英晶体振荡器 ? 串联型晶体振荡器
? 静态工作点、微调电容、负载电阻对晶体振荡器工作的影响 2.做本实验时所用到的仪器: ? ? ? ?
二、实验目的
1.熟悉电子元器件和高频电子线路实验系统。
2.掌握石英晶体振荡器、串联型晶体振荡器的基本工作原理,熟悉其各元件功能。 3.熟悉静态工作点、微调电容、负载电阻对晶体振荡器工作的影响。
4.感受晶体振荡器频率稳定度高的特点,了解晶体振荡器工作频率微调的方法。
三、实验内容
1.用万用表进行静态工作点测量。
2.用示波器观察振荡器输出波形,测量振荡电压峰-峰值Vp-p,并以频率计测量振荡频率。 3.观察并测量静态工作点、微调电容、负载电阻等因素对晶体振荡器振荡幅度和频率的影响。
四、基本原理
1.晶体振荡器工作原理
一种晶体振荡器的交流通路如图4-1所示。图中,若将晶体短路,则L1、C2、C3、C4就构成了典型的电容三点式振荡器(考毕兹电路)。因此,图4-1的电路是一种典型的串联型晶体振荡器电路(共基接法)。若取L1=4.3μH、C2=820pF、C3=180pF、C4=20pF,则可算得LC并联谐振回路的谐振频率
图5-1 晶体振荡器交流通路图4-1 晶体振荡器交流通路 R4C2BG1C3C4C5晶体振荡器模块
双踪示波器 频率计 万用表
JTIL1R5f0≈6MHz,与晶体工作频率相同。图中,C4是微调
载越重,输出振荡幅度将越小。 2.晶体振荡器电路
电容,用来微调振荡频率;C5是耦合(隔直流)电容,R5是负载电阻。很显然,R5越小,负
晶体振荡器电路如图4-2所示。图中,4R03、4C02为去耦元件,4C01为旁路电容,并构成共基接法。4W01用以调整振荡器的静态工作点(主要影响起振条件)。4C1为微调电容,可微调振荡频率,4C05为输出耦合电容。4Q02为射随器,用以提高带负载能力。实际上,图4-2电路的交流通路即为图4-1所示的电路。
五、实验步骤 1.实验准备
在实验箱主板上插好晶振模块,接通实验箱上电源
4W014R033k4C02+12V14R072K开关,按下开关4K01,此时电源指示灯点亮。
4R014L014D01LED 4TP014R054C054Q02901875p14TP022.静态工作点测量 改变电位器4W01可改变4Q01的基极电压VB,并改变其发射极电压VE。记下VE的最大、最小值,并计算相应的IEmax、IEmin值(发射极电阻4R04=1KΩ)。
3.静态工作点变化对振荡器工作的影响
⑴ 实验初始条件:VEQ=2.5V(调4W01达到)。
4C0114C0614VO1X4C034C1Y4Q01输出4R065004JZ014R026MHZ4R044C04GND1312 图4-2 晶体振荡器实验电路 ⑵ 调节电位器4W01以改变晶体管静态工作点IE,使其分别为表4.1所示各值,且把示波器探头接到4TP02端,观察振荡波形,测量相应的振荡电压峰-峰值Vp-p,并以频率计读取相应的频率值,填入表4.1。
表4.1
VEQ(V) f(MHz) Vp-p(V)
4.微调电容4C1变化对振荡器工作的影响 ⑴ 实验初始条件:同3⑴。
⑵ 用改锥(螺丝刀、起子)平缓地调节微调电容4C1。与此同时,把示波器探头接到4TP02端,观察振荡波形,并以频率计测量其频率,看振荡频率有无变化。 六、实验报告要求
1.根据实验测量数据,分析静态工作点(IEQ)对晶体振荡器工作的影响。
2.对实验结果进行分析,总结静态工作点、微调电容、负载电阻等因素对晶体振荡器振荡幅度和频率的影响,并阐述缘由。
3.对晶体振荡器与LC振荡器之间在静态工作点影响、带负载能力方面作一比较,并分析其原因。
4.总结由本实验所获得的体会。
2.0 2.2 2.4 2.6 2.8 3.0
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